在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位视差法。

相关问题 1：

C型显示所能提供的超声波探伤记录,其主要参数是()A、缺陷深度和尺寸B、缺陷深度、取向和尺寸C、缺陷的位置和深度D、缺陷的位置和尺寸(平面视图)

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相关问题 2：

射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

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相关问题 3：

在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法。

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相关问题 4：

在射线照相中，确定缺陷在工件中深度位置的方法是（）A、在互相垂直的两个方向对工件作二次照相B、对工件作平移二次照相C、对工件作旋转二次照相D、以上都是

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相关问题 5：

利用双探头穿透法探查铀棒时，不能确定缺陷在表面下的深度位置。

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相关问题 6：

渗透探伤是一种非破坏性检验方法，这种方法可用于（）A、探测和评定试件中各种缺陷B、探测和确定试样中的缺陷长度、深度和宽度C、确定试样的抗拉强度D、探测工件表面的开口缺陷

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相关问题 7：

用不同角度的探头对同一缺陷探测时，所得缺陷的深度是不同的。

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